20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件晶粒级别超声二次底波法检测技术研究

• 作者: 何延善 孙常明 李银松 王立新 田峰
• 来源期刊: 内蒙古电力技术
• 关键词: 超声二次底波法 20Cr1Mo1V(Nb)TiB 紧固件 晶粒级别 金相法 散射衰减
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 12-16
• 页数: 5页
• 字数: 4245字
• 语种: 中文

摘要

基于材质粗大晶粒对超声波散射衰减原理,使用A型脉冲超声波反射法研究了20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件Ⅰ类(晶粒级别1、2级)、Ⅱ类(晶粒级别3、4级)和Ⅲ类(晶粒级别5级)晶粒级别的检测方法.结果表明:各晶粒级别对超声波的散射衰减影响显著,且随着探测频率的增加而增大.在相同探测频率下,一次底波波高为满刻度80％时,Ⅰ类与Ⅲ类紧固件相比,二次底波波高平均值低7.61％ ～28.1％,波幅值平均值高10.6～ 15.8 dB;Ⅱ类和Ⅲ类紧固件相比,二次底波波高平均值低6.7％～9.4％,波幅值平均值高4～ 5.6 dB.当探测频率为5 MHz、10 MHz时,粗晶(Ⅰ、Ⅱ类)紧固件对超声波的散射衰减更为明显.用该方法可有效检测20Cr1 Mo 1V(Nb)TiB紧固件的晶粒级别,检测方法具有效率高、便捷、准确及无损材质等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王立新		24	72	4.0	6.0
2	田峰		39	89	5.0	7.0
3	孙常明		7	19	4.0	4.0
4	何延善		1	4	1.0	1.0
5	李银松		1	4	1.0	1.0