微波器件的可靠性及失效分析

• 作者: 刘军霞 张新焕 曹敏华
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 微波器件 可靠性 失效分析 失效模式 失效机理
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 页码范围: 34-36
• 分类号: TN306
• 字数: 2654字
• 语种: 中文

摘要

微波器件的可靠性直接影响整机系统的可靠性,失效分析工作可以显著提高微波器件的质量与可靠性,从而提高整机系统的质量与可靠性.同时,失效分析工作会带来很高的经济效益,对元器件的生产方和使用方都具有重要意义.微波器件失效的主要原因有两个方面:固有缺陷和使用不当,固有缺陷由生产方引起,使用不当主要由用户引起.微波器件可以分为微波分立器件、微波单片电路以及微波组件三大类,文章分别对三类微波器件的主要失效模式和失效机理做了较为全面的分析和概括.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张新焕		3	3	1.0	1.0
2	刘军霞		2	3	1.0	1.0
3	曹敏华		2	2	1.0	1.0