应用于ESD防护电路的抗噪声LVTSCR组件研究

• 作者: 马万里
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 静电防护 可控硅 闩锁 噪声 触发电流 保持电压
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 页码范围: 40-43
• 分类号: TN402
• 字数: 1418字
• 语种: 中文

摘要

应用于ESD防护的低压触发SCR组件,当受到电路噪声干扰时,极易造成SCR组件的误导通,进而影响到电路的正常功能,严重时可以产生持续的闩锁效应,造成SCR组件烧毁.通过改进SCR的结构,提高该SCR组件的触发电流,或者提高该SCR组件的保持电压,使其抗噪声干扰能力大大增强.另外,文中对触发电流与温度的关系、保持电压与N+区宽度的关系也做了分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马万里		9	13	2.0	3.0