工业机柜温控设备性能测试室的研制

• 作者: 汪铃 涂淑平
• 来源期刊: 机械制造与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 机柜温控设备 性能测试室 恒温恒湿 露点 PID
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 电气技术与自动化
• 页码范围: 175-177
• 页数: 3页
• 分类号: TH12|TM930.8
• 字数: 1878字
• 语种: 中文

摘要

为了测试机柜温控设备性能以及优化设计,按照欧洲标准EN-14511,研制了一套机柜温控设备测试室.测试室可以提供-45℃～70℃的温度和30％～ 90％相对湿度的环境.控制系统选用研华BAS-3000系列DDC直接数字控制器.恒温恒湿工况采用露点温度控制的方法,温湿度控制精度能分别达到±0.2℃,±1％的要求.经过实际应用,该系统稳定、可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	涂淑平	上海海事大学商船学院	34	70	6.0	7.0
2	汪铃	上海海事大学商船学院	1	0	0.0	0.0