超声测厚技术的试验应用与硬件设计

• 作者: 王健
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 超声测厚 脉冲反射 硬件设计 仿真
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 83-86
• 分类号: TB517
• 字数: 1872字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2012.02.022

摘要

准确评估导弹发射后对发射箱内壁损坏程度,以及对发射装置的维护保养,都需要对发射装置内壁进行检查。而这些工作很多都无法靠人员直接观察,必须利用无损探伤方法对其进行测量。本文在共振式和脉冲反射式两种方式对超声测厚原理进行分析和理解的基础上,设计了超声测厚的硬件电路、并对超声测厚算法进行仿真。深入开展对超声测厚技术领域的研究可以对导弹发射后对发射箱内部破损情况的检验具有重大的实用价值。