微波在片测试数据离散剔除算法研究

• 作者: 康耀辉 张新焕 曹敏华 陈金远 顾梅
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 在片测试 离散数据 剔除算法
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 页码范围: 20-23
• 分类号: TN407
• 字数: 3118字
• 语种: 中文

摘要

针对微波在片测试项目多、参数复杂、数据处理灵活性大的特点,开发了工艺控制微波数据处理软件,但该软件存在离散数据剔除难的问题.文章讨论了如何对离散数据进行剔除的几种算法:模拟EXCEL表格画图法、一致性剔除离散算法、累积均方差剔除离散法、拟合正态分布曲线算法,最终选定拟合正态分布曲线算法作为剔除离散方法.将剔除离散数据功能完善到工艺控制微波数据处理软件,将使微波在片测试数据处理最终实现自动化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张新焕		3	3	1.0	1.0
2	曹敏华		2	2	1.0	1.0
3	康耀辉		1	0	0.0	0.0
4	顾梅		1	0	0.0	0.0
5	陈金远		2	0	0.0	0.0