在电子显微镜中的电子能量损失光谱术：第3版

• 作者: 刘克玲
• 来源期刊: 国外科技新书评介
• 学科: 工学
• 关键词: 透射电子显微镜 电子能量损失 光谱术 EELS 表面科学 化学性能 材料表面 物理性能
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 21-22
• 页数: 2页
• 分类号: TB383

摘要

电子能量损失光谱术（EELS）是研究表面科学的重要工具。在过去的30年中，EELS已成为透射电子显微镜（TEM）的一种标准的分析技术，用于测量材料表面原子级的化学性能、结构信息和物理性能。本书的前两版已成为EELS的标准参考书，讲述了EELS的各种仪器，以及相关的物理学内容和分析程序

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘克玲	中国科学院过程工程研究所	97	71	3.0	8.0