基于TotalRecall技术ASIC的FPGA原型验证

• 作者: 郭安华 黄世震
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 专用集成电路 TotalRecall技术 现场可编程门阵列 验证平台
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 313-316
• 分类号: TN492
• 字数: 2154字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2012.03.016

摘要

芯片设计中一个非常重要的环节是验证.随着FPGA技术的迅速发展使基于FPGA的原型验证被广泛的用于ASIC的开发过程,FPGA原型验证是ASIC有效的验证途径,但传统FPGA原型验证的可视性非常差.为了解决传统FPGA原型验证可视性的问题,验证工程师采用了结合TotalRecall技术的FPGA原型验证方法对一款鼠标芯片进行验证.获得该方法不仅能提供100％的可视性,还确保FPGA原型验证以实时硬件速度运行.该方法创新了ASIC的验证方法学.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄世震	福州大学福建省微电子集成电路重点实验室	93	587	13.0	19.0
2	郭安华	福州大学福建省微电子集成电路重点实验室	1	0	0.0	0.0