原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
许多大型的复杂设备,尤其像导弹、大型显控装置、舰载大型相控阵雷达等装备,其系统复杂、成本昂贵、可靠性要求高以及生产量少,难以依靠专门的可靠性鉴定试验来评价其可靠性水平.总结了目前工程上常见的3类外场数据分析和可靠性评估问题,对于齐次泊松过程、非齐次增长过程和贮存寿命数据的可靠性评估方法在数学上给出了详尽的证明;对于数据来源复杂的贮存寿命数据分析问题,给出了一个算例,为读者应用提供参考.
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文献信息
篇名 大型装备外场故障数据分析与可靠性评估方法
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 外场数据 可靠性评估 贮存寿命
年,卷(期) 2012,(6) 所属期刊栏目 可靠性与环境适应性理论研究
研究方向 页码范围 29-34
页数 6页 分类号 TB114.3
字数 语种 中文
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2 沈峥嵘 9 31 4.0 5.0
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贮存寿命
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
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