横电磁波小室校准系统产生标准电场的不确定度评定

• 作者: 曾嵘 沈晓丽 陈未远
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 电场测量 电场传感器 校准 横电磁波(TEM)小室 标准电场 不确定度
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容与工程电磁场专题
• 页码范围: 2781-2788
• 页数: 8页
• 分类号: O451
• 字数: 6356字
• 语种: 中文

摘要

电场传感器需要通过校准才能应用于电场测量,校准系统的不确定度反映了传感器校准结果的可信赖程度,所以需要评定校准系统的不确定度。横电磁波（TEM）小室具有成本低、内部电场均匀性好、幅值较高等优点,适用于产生标准电场,进行电场传感器的校准工作。针对光电集成电场传感器的校准需求,建立了一套TEM小室电场传感器校准系统,分析了该系统产生标准电场的各项影响因素包括场均匀系数、TEM小室特征阻抗实部、半空间距离和净输入功率,计算了这些影响因素的标准不确定度。通过不确定度合成,得出TEM小室校准系统在≥95.45%的置信概率下,产生标准电场的扩展不确定度为5.9%,满足校准电场传感器的需求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾嵘	清华大学电机工程与应用电子技术系	144	3396	33.0	52.0
2	陈未远	清华大学电机工程与应用电子技术系	4	107	4.0	4.0
3	沈晓丽	清华大学电机工程与应用电子技术系	1	14	1.0	1.0