宇航元器件极限评估试验剖面设计

• 作者: 张小川 张洪伟 毋俊玱 董宇亮
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 航空航天
• 关键词: 可靠性 极限评估 剖面 温度应力 电压应力
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 59-63,67
• 分类号: V240.2
• 字数: 5696字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2012.01.016

摘要

宇航元器件极限评估是一种新的可靠性评价技术,其目的是评价电子元器件的极限能力,以适应航天对电子元器件的高可靠性要求.介绍了极限评估和极限评估试验,提出了极限评估试验剖面设计的一般原则,给出了试验剖面设计的典型方法,并以微波固态功放的温度应力极限评估试验和GaAs单片微波集成电路的电压应力极限评估试验作为典型样例设计了试验剖面,通过试验验证了剖面的有效性,最后总结了极限评估试验剖面设计中应当注意的一些事项.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张小川	电子科技大学物理电子学院	3	9	2.0	3.0
2	董宇亮	电子科技大学物理电子学院	9	41	4.0	6.0
3	张洪伟		9	42	4.0	6.0
4	毋俊玱	电子科技大学物理电子学院	1	5	1.0	1.0