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TO-252晶体管全自动测试/打标分选机设计
TO-252晶体管全自动测试/打标分选机设计
作者:
李伟民
马利年
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
TO-252
管条对管条
测试
打标
外观检
摘要:
文章对带有外观检验功能的TO-252晶体管全自动测试/打标分选机的工作原理、软件和硬件设计进行详细介绍.该设计中首次引入测试推管机构,以解决因TO-252管脚太短、产品管脚与金手指接触不良引起的产品电参数测试误测问题;同时,在生产流程中引入外观检验工位,对测试、打标后的产品打标内容和管脚外型尺寸进行自动检验,很好地避免了成品中出现外观不良的产品.实践证明,该机具有自动化程度高、运行高速可靠、操作安全方便、维护简单、性价比高等优点,客户使用后反映良好.
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内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
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文献信息
篇名
TO-252晶体管全自动测试/打标分选机设计
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
TO-252
管条对管条
测试
打标
外观检
年,卷(期)
2012,(5)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
14-17
页数
分类号
TN407
字数
2838字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
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1
李伟民
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传播情况
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2017(1)
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
TO-252
管条对管条
测试
打标
外观检
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
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总被引数(次)
9543
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