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摘要:
保护电路是电源管理芯片的一个重要环节,研究一种高可靠的保护电路是非常重要的。为了保证电源管理芯片在复杂的环境中可以正常使用,本文主要对其中的保护电路进行了详细的分析,并设计出过温保护电路。根据可重用性的设计方法,在CSMCO.5μm工艺下,利用Cadence spectreI具对过温保护电路进行前端仿真验证。在不同电源电压下,对保护功能开启时的温度、滞迟范围、滞迟开启温度都进行了仿真测试。通过滞迟模块既有效抑制了芯片温度的升高,又避免频繁对功率管的关断。
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集成电路
芯片
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 电源管理芯片过温保护电路的分析与设计
来源期刊 电子测试 学科 工学
关键词 可重用 迟滞 PTAT
年,卷(期) 2012,(9) 所属期刊栏目 测试工具与解决方案
研究方向 页码范围 57-61
页数 5页 分类号 TN433
字数 2275字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8519.2012.09.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姜生瑞 兰州交通大学电子与信息工程学院 4 28 4.0 4.0
2 郭利芳 兰州交通大学电子与信息工程学院 3 24 3.0 3.0
3 张颖斐 兰州交通大学电子与信息工程学院 3 24 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
可重用
迟滞
PTAT
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
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63
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36145
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