离面位移数字散斑干涉系统测量材料内部缺陷

• 作者: 梁智锦 王开福 许星 顾国庆
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 信息光学 数字散斑干涉 数字图像处理 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 激光与光电子技术应用
• 页码范围: 548-552
• 分类号: O348.11
• 字数: 3810字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.2012.04.029

摘要

为了实现对材料内部较深层缺陷的大小和深度的检测,采用弹性理论分析并结合离面位移数字散斑干涉实验的方法,分析了含内部缺陷试件的离面位移分布,并给出了理论解.同时用数字散斑干涉和数值仿真得出试件的离面位移,将3种方法得到的离面位移及其1阶导数的分布做了对比,由对比结果可知,理论、实验及仿真得到的结果非常吻合,并对误差做了分析.从实验得到离面位移的1阶导数可获得缺陷的大小,结合理论计算出缺陷的深度,二者的误差都在允许范围之内.结果表明,利用离面位移数字散斑干涉系统测量材料内部较深层缺陷具有很高的准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王开福	南京航空航天大学航空宇航学院	21	132	7.0	10.0
2	顾国庆	南京航空航天大学航空宇航学院	9	58	5.0	7.0
3	许星	南京航空航天大学航空宇航学院	4	10	1.0	3.0
4	梁智锦	南京航空航天大学航空宇航学院	3	22	2.0	3.0