利用径向准直器减轻中子应力测量中的赝偏移的模拟研究

• 作者: 孙光爱 陈彦舟 陈波
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 中子衍射应力分析 赝偏移 径向准直
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 117-120
• 分类号: O571.56
• 字数: 2418字
• 语种: 中文

摘要

用中子衍射应力分析谱仪测量无应力样品表面时,衍射峰因装置因素会发生一定的偏移(赝偏移).使用射线追踪程序SIMRES对减轻赝偏移的方法进行系统研究,使得测量的应力值更为准确且具有重要的实用价值.研究结果表明,使用第一和第二径向准直器可有效减轻赝偏移,主要体现在第一径向准直器可以减轻波长效应,第二径向准直器可以减轻峰剪切效应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈波	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	97	475	12.0	18.0
2	孙光爱	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	33	103	4.0	9.0
3	陈彦舟	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	6	3	1.0	1.0