低温等离子体原子荧光光谱法直接测定固体样品中的汞

• 作者: 李佳 李铭 杨萌 薛蛟 邢志 黄秀
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 低温等离子体 介质阻挡放电 汞 原子荧光 塑料
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 1164-1168
• 分类号: O65
• 字数: 3365字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1096.2012.11450

摘要

建立了低温等离子体(LTP)与原子荧光光谱仪(AFS)联用直接检测ABS固体样品中Hg的方法.实验采用介质阻挡放电(DBD)方式产生低温等离子体,剥蚀固体样品后产生的元素蒸气引入到原子荧光光谱仪进行检测.优化的实验条件为:DBD外接电源的放电功率为16～18 W,放电气体流速为400 mL/min;采样距离为1～5 mm;原子荧光光谱仪的原子化器高度为10 mm.本系统测定Hg的检出限为0.91 mg/kg,线性范围为91.5～1096 mg/kg;精密度(RSD,n=7)为1.9％～2.3％,并对标准样品以及实际样品进行测定,测定结果与标准值与ICPMS及CVG-AFS一致,表明本方法可作为直接检测固体样品的新型元素分析技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邢志	清华大学化学系	20	101	7.0	8.0
2	李佳	清华大学化学系	25	84	5.0	8.0
3	杨萌	清华大学化学系	5	27	3.0	5.0
4	李铭	清华大学化学系	6	29	4.0	5.0
6	薛蛟	清华大学化学系	2	11	1.0	2.0
8	黄秀	清华大学化学系	6	31	4.0	5.0