运行后复合绝缘子的理化分析

• 作者: 贾伯岩
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 复合绝缘子 绝缘老化 Fourier红外光谱分析 热分析 扫描电镜(SEM)检测 憎水性级别
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 914-921
• 页数: 8页
• 分类号: TM216
• 字数: 3684字
• 语种: 中文

摘要

为了获得复合绝缘子在运行后老化的状况,选取了3个厂家生产的6支绝缘子试样,分别对这6支试样进行了憎水性测试、Fourier红外光谱分析、热分析和扫描电镜（SEM）检测。结果表明：硅橡胶表层的憎水性基团Si-CH3、-CH3各自与-Si-O-Si-基团的摩尔比明显低于中心层,而-OH未见明显规律;憎水性基团Si-CH3、-CH3摩尔比的相对变化能较好地表征憎水性,而-OH不宜作为复合绝缘子的憎水性表征指标。新复合绝缘子表层和中心层的组成基本相同。投运后复合绝缘子表层和中心层中无机化合物的质量规律性不明显;表层及中心层中高分子物质的质量随运行时间的延长而呈下降趋势,且中心层中高分子物质的质量高于表层;表层中低分子物质的质量高于中心层。投运时间对试样的扫描电镜结果具有一定的影响。新复合绝缘子试样喷水后的憎水性级别为HC1,运行后试样的憎水性级别处于HC3～HC4,同一复合绝缘子试样中不同伞裙、不同位置的憎水性也略有不同。研究结果对复合绝缘子老化评估具有参考价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾伯岩		15	105	7.0	9.0