SiO,SiS分子基态(X1∑+)的势能函数与光谱常数的研究

• 作者: 任廷琦 侯圣伟 杨士玲 秦宝钧
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 基态 密度泛函法 Murrell-Sorbie函数 势能函数 光谱常数
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 原子、分子结构与光谱
• 页码范围: 12-16
• 分类号: O561.1
• 字数: 2163字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2012.01.003

摘要

根据群论及原子分子反应静力学的有关原理,推导出SiO,SiS分子基态(X1∑+)的合理离解极限.使用密度泛函方法中的B3P LY和B3P86方法,在6-311++G(3df,2pd)和D95(3df,2pd)基组下对SiO,SiS分子的基态进行结构优化计算,使用优选的B3P86/D95(3df,2pd)对基态单点能扫描计算.然后用最小二秉法拟合Murrell-Sorbie函数,得到对应的势能函数参数及光谱常数.结果表明,采用Murrell-Sorbie函数计算所得的光谱常教与实验结果符合的很好,能精确地描述SiO,SiS分子基态的势能函数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任廷琦	曲阜师范大学物理工程学院	8	19	2.0	4.0
2	杨士玲	曲阜师范大学物理工程学院	2	1	1.0	1.0
3	侯圣伟	曲阜师范大学物理工程学院	1	0	0.0	0.0
4	秦宝钧	曲阜师范大学物理工程学院	2	1	1.0	1.0