超声△法与TOFD法在薄壁电子束焊缝上的检测结果对比分析

• 作者: 卢超 史亦韦 王乃波
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 超声△法 TOFD法 图像 灵敏度
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 测试与表征
• 页码范围: 20-24
• 分类号: TG115.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2012.02.006

摘要

采用超声△衍射法和TOFD法对模拟缺陷进行检测,得出了缺陷检测波形图和B/C扫描图.对比分析了超声△衍射法与TOFD法的检测结果.实验表明利用超声△衍射法能够识别近表面垂直表面的面状缺陷,有效地对缺陷进行定位,能够很好地克服表面盲区,对缺陷的检测识别能力不受缺陷方向限制.从检测结果数据可以看出超声△衍射法的检测灵敏度和缺陷识别能力优于TOFD法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卢超	南昌航空大学无损检测教育部重点实验室	110	753	16.0	21.0
2	史亦韦		17	104	6.0	8.0
4	王乃波	南昌航空大学无损检测教育部重点实验室	3	25	2.0	3.0