基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术

• 作者: 李银辉 王欣
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 Test Director6 板级测试 JTAG
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 页码范围: 968-970
• 分类号: TN98
• 字数: 1086字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2012.08.025

摘要

在国内首次介绍了Qmax公司的Test Director6开发工具在JTAG测试中的应用,并首次提出了利用Test Director6进行基于JTAG技术的板级测试方法.实验证明,该方法成熟高效,能有效提高测试效率和测试可靠性,具有较大的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王欣		2	4	1.0	2.0
2	李银辉		3	4	1.0	2.0