基于片外信号源的SoC低成本测试解决方案

• 作者: 刘炎华 孙玲 钟伟宏
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统 片外信号源 低成本 自动测试系统
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 页码范围: 17-19
• 分类号: TP302.8
• 字数: 2372字
• 语种: 中文

摘要

随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高,其测试变得越来越复杂,测试成本也越来越高,如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点.卫星数字电视信道接收芯片作为机顶盒关键芯片之一,对低成本测试的要求也越来越迫切.文章针对某卫星数字电视信道接收芯片,通过分析该芯片的内部模块功能,采用片外信号源方法设计该芯片的低成本测试方案,并在自动测试系统T6575上实现.实际生产结果表明,该方法能极大降低芯片测试成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘炎华	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	11	29	3.0	5.0
2	钟伟宏		1	0	0.0	0.0
3	孙玲		1	0	0.0	0.0