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摘要:
概述RF-MEMS开关的应用现状,针对RF-MEMS开关封装后射频性能恶化的问题,分析了封装的必要性,强调了单片级封装对功能化模块的集成优势;针对RF-MEMS开关的使用寿命不能满足系统应用的问题,比较不同的切换方式下的使用寿命,介绍冷切换与射频信号通断的时间关系,给出了一种延长开关使用寿命的解决方案.进一步推动RF-MEMS开关在系统方面的应用.
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电容率
插入损耗
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 RF-MEMS开关的应用技术浅析
来源期刊 电子世界 学科 工学
关键词 RF-MEMS开关 封装 冷切换 热切换 使用寿命
年,卷(期) 2012,(7) 所属期刊栏目 设计应用
研究方向 页码范围 124-126
页数 分类号 TP3
字数 2930字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姜海玲 中国电子科技集团公司第五十四研究所 8 41 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
RF-MEMS开关
封装
冷切换
热切换
使用寿命
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
半月刊
1003-0522
11-2086/TN
大16开
北京市
2-892
1979
chi
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36164
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96
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