基于DSP的ADC测试功耗优化设计

• 作者: 冯兵 李艳群 谈恩民 陈果
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: ADC 低功耗测试结构 遗传算法
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 55-57,61
• 分类号: TN792
• 字数: 2777字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8978.2012.03.015

摘要

随着大规模混合信号集成电路设计水平及复杂性的不断提高,对其进行测试的难度与成本变得越来越高,而测试功耗过高已经成为影响测试成本的一个重要因素.ADC作为混合信号电路的典型代表,已经应用在了各种集成模块上.文章中为降低ADC测试功耗,对ADC的测试结构进行了部分改进,并运用遗传算法搜索了低功耗测试激励.理论研究及仿真实验表明,优化后的结构和低功耗测试激励较优化前能同时降低测试时的峰值功耗和平均功耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民		53	221	8.0	11.0
2	李艳群		2	5	1.0	2.0
3	陈果		4	25	2.0	4.0
4	冯兵		2	16	1.0	2.0