介电型电活性聚合物(EAP)驱动器失效行为分析

• 作者: 朱银龙 王化明 赵东标
• 来源期刊: 航空学报
• 学科: 工学
• 关键词: 介电型EAP 驱动器 失效 起皱现象 介电击穿
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 材料工程与机械制造
• 页码范围: 347-353
• 分类号: TB34
• 语种: 中文
• DOI: 11-1929/V.20110810.1118.005

摘要

介电型电活性聚合物( EAP)驱动器在工作过程中,边界条件及驱动电压的改变经常导致EAP薄膜发生起皱现象以及介电击穿,致使驱动器失去工作能力.为了保障驱动器的正常工作,避免失效行为的发生,对EAP驱动器的失效行为进行了研究.针对锥形驱动器,计算出不同驱动电压下驱动器EAP薄膜的变形情况以及其中的应力、应变和电场强度的分布情况.利用薄膜起皱判别方法,对驱动器的起皱行为进行预测,同时分析了预拉伸倍数对驱动器失效的影响.试验结果表明,EAP驱动器的理论临界起皱电压与理论分析比较吻合,预拉伸可以提高薄膜的机电稳定性能.研究结果可用于预测介电型EAP驱动器发生失效的临界电压,有利于保障驱动器的安全工作.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王化明	南京航空航天大学机电学院	60	531	15.0	21.0
2	赵东标	南京航空航天大学机电学院	161	1433	20.0	28.0
3	朱银龙	南京航空航天大学机电学院	6	73	5.0	6.0