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摘要:
采用X射线粉晶衍射(XRD)、高分辨透射电镜(HR-TEM)及X射线荧光光谱(XRF)对青田叶腊石的矿物学特征进行了较为系统的研究.结果表明:叶腊石矿物颗粒微结构中最基本的构成单元为纳米板片,且该板片多呈聚集态,单层板片面积大小不一,厚度为(8±2)nm.XRF分析结果表明青田叶腊石原矿混合物中SiO2与Al2O3的分子个数比为6.2,明显高于纯叶腊石中SiO2与Al2O3的分子个数比4.0.HR-TEM对叶腊石晶体结构的研究证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征,该结论与叶腊石XRD结论一致;且XRD分析结果证实其伴生矿为石英,该结论与XRF所获得的青田叶腊石的“富硅”特征吻合.此外,叶腊石微结构中存在着较明显的晶体缺陷.在高能电子束辐照作用下,叶腊石晶体结构发生明显的破坏,并最终转变为非晶态结构.
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内容分析
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文献信息
篇名 浙江青田单斜晶系叶腊石微结构的高分辨透射电镜研究
来源期刊 岩矿测试 学科 地球科学
关键词 叶腊石 单斜晶系 微结构 粒径效应 高分辨透射电镜
年,卷(期) 2012,(2) 所属期刊栏目 研究报告与简报
研究方向 页码范围 295-300
页数 分类号 P575|P579|P575.2
字数 4198字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0254-5357.2012.02.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 严俊 浙江工业大学化学工程与材料学院 19 46 4.0 5.0
2 方伟 浙江工业大学化学工程与材料学院 7 33 4.0 5.0
3 盛嘉伟 浙江工业大学化学工程与材料学院 38 120 6.0 7.0
4 张俭 浙江工业大学化学工程与材料学院 33 99 5.0 6.0
5 姚程 浙江工业大学化学工程与材料学院 5 19 3.0 4.0
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期刊影响力
岩矿测试
双月刊
0254-5357
11-2131/TD
大16开
北京市西城区百万庄大街26号
2-313
1982
chi
出版文献量(篇)
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29723
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