提高微波元器件反射参量测量准确度的常用方法分析

• 作者: 毕文辉
• 来源期刊: 计量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 反射参量 测量 准确度
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 24-26
• 分类号: TB9
• 字数: 3189字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2012.7.007

摘要

反射参量是描述微波电路匹配情况的一个重要参数,它有明确的物理意义,可直接测量,是微波元器件最常需测试的技术指标.本文介绍了利用反射计测量反射参量过程中,通过采用信号源的稳幅、信号源的隔离或去耦和解决测量电路(硬件)非理想等来提高反射参量测量准确度的三种方法,并分析了三种方法的工作原理.