闪烁薄膜探测器X/γ射线能量响应研究

• 作者: 刘金良 张建福 张忠兵 张显鹏 欧阳晓平 陈亮
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 薄膜闪烁体 能量响应 Geant4程序 脉冲X射线
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 1377-1381
• 页数: 5页
• 分类号: TL812.1|TL816.3
• 语种: 中文

摘要

为准确评估闪烁薄膜探测器(OSFD)在脉冲裂变中子参数测量中γ射线对测量结果的影响,利用Geant4程序对闪烁薄膜探测器的X(或γ)射线响应进行模拟,结合半经验电子发光效率曲线,获得探测器能量响应理论曲线,利用662 keV和1.25 MeV的单能γ射线源,以及窄谱剂量标准的48～208 keV 准单能X射线能点对探测器响应进行刻度.本研究结果为闪烁薄膜探测器结构的改进,以及探测器在宽能谱脉冲X射线场测量中的应用提供了重要依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张建福		18	38	3.0	5.0
2	陈亮		29	40	3.0	4.0
3	欧阳晓平		99	283	9.0	11.0
4	张忠兵		47	186	8.0	11.0
5	张显鹏		34	83	4.0	7.0
6	刘金良		16	10	2.0	2.0