点缺陷半径变化对光子晶体直接耦合结构THz波调制器性能的影响

• 作者: 宋丽军 汪静丽 赵新彦 陈鹤鸣
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 复式晶格 光子晶体 直接耦合 太赫兹波 调制器
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: TN20

摘要

点缺陷构成的微腔对THz波调制器的性能起着决定性的作用，而在实际制作加工过程中，由于工艺的原因，光子晶体的结构参量会产生偏差，难以制备出孔径毫无偏差的光子晶体，且介质柱的放置位置不能达到完全精确，因此光子晶体器件的性能也因此会受到一定程度的影响。文中重点讨论了点缺陷介质柱的半径变化对直接耦合结构的THz波调制器性能的影响，为光子晶体调制器的实际制作和相应的误差分析提供了理论帮助。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪静丽	南京邮电大学光通信研究所	14	50	3.0	6.0
2	陈鹤鸣	南京邮电大学光通信研究所	140	617	14.0	18.0
3	赵新彦	南京邮电大学光通信研究所	11	40	5.0	6.0
4	宋丽军	南京邮电大学光通信研究所	4	9	1.0	3.0