X射线RoHS荧光分析基体效应吸收校正的MCNP模拟

• 作者: 谈春明
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: X射线荧光分析 基体效应 RoHS MCNP
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 1372-1376
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34
• 语种: 中文

摘要

采用MCNP程序模拟RoHS元素荧光分析受基体材料和射线能量的影响.在低浓度RoHS分析中强度和浓度近似为线性关系,不同基体下直线斜率差别很大.对镉的计算表明,荧光强度的差异主要受吸收系数的影响,严重时达两个量级.为改善浓度测量的准确度,引入吸收系数影响因子对荧光强度进行校正,使用同一种标样刻度,可克服不同基体中浓度转换系数变化的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈春明	清华大学核能与新能源技术研究院	24	52	5.0	6.0