用激光粒度仪检测还原染料颗粒细度的研究

• 作者: 刘广勇 孙继会 朱敏 李兵 杨素 蔡瑞琳 魏家荣
• 来源期刊: 科技成果管理与研究
• 学科: 工学
• 关键词: 激光粒度仪 Mie理论 还原染料 微纳米染料
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 科研交流
• 页码范围: 53-56
• 分类号: TQ610.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3772/j.issn.1673-6516.2012.05.019

摘要

通过激光粒度仪法简单、快速、准确地检测还原染料颗粒细度,指导商品染料加工过程中研磨效果控制.从原染料投料生产到加工成商品染料,每一步都能全面检测染料的颗粒细度,从而达到缩短生产加工周期、节约能耗的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡瑞琳		6	7	1.0	2.0
2	魏家荣		3	7	1.0	2.0
3	朱敏		2	2	1.0	1.0
4	孙继会		2	2	1.0	1.0
5	李兵		2	2	1.0	1.0
6	刘广勇		2	2	1.0	1.0
7	杨素		2	2	1.0	1.0