红外探测器件在低温背景下的探测率测试

• 作者: 张伟 王世涛 王强
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 红外探测器件 探测率检测 低温背景 低温光学系统 光学设计
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 484-491
• 分类号: TN215|TP732.2
• 字数: 5639字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20122003.0484

摘要

建立了红外探测器件低温背景探测率测试系统,实验研究了红外探测器件在低温背景下的探测特性,用于支持红外探测低温光学系统的合理设计.首先,介绍并分析了红外探测系统的噪声和响应特性,建立了低温光学系统设计与红外探测器件在低温背景下探测性能之间的关系；在热真空环境下搭建了基于变温面源黑体的低温背景探测率测试系统.然后,针对某红外器件在低温背景下的探测率进行了实验测量.最后,通过计算得到了低温背景下极限积分时间及探测特性相对于常温背景下的一般变化规律.实验结果表明:低温背景下极限积分时间及探测率均比常温背景下提高近20倍,提出的测试技术可为低温光学系统的指标设计提供依据与参考.