波长调制光谱检测下限计算方法的研究

• 作者: 伍昂 吴尚谦 翟维 董跃辉 蔡彦
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 光谱学 检测下限 波长调制光谱 信噪比 残余振幅调制
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 激光与光电子技术应用
• 页码范围: 390-393,397
• 分类号: O433.4
• 字数: 637字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3806.2012.03.027

摘要

在基于波长调制光谱技术的大气痕量气体检测下限计算方法的研究中,全面准确地描述吸收信号及噪声的大小极为重要.为了探讨半导体二极管激光器在进行波长直接调制时伴随产生的残余振幅调制噪声对检测下限的影响,在理论推导中采用了一种同时考虑波长和振幅调制的二次谐波信号分析及提取方法,以二次谐波信号峰谷差值作为系统的检测信号,对可调谐二极管激光器吸收光谱检测系统的信噪比和检测下限进行了理论分析,取得了洛伦兹吸收线型条件下残余振幅调制噪声对系统信噪比和检测下限的影响的精确计算数据.结果表明,在吸收线的线宽较大的检测条件下,残余振幅调制噪声是影响检测下限的重要因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴尚谦	昆明理工大学理学院	7	21	3.0	4.0
2	董跃辉	昆明理工大学理学院	5	21	3.0	4.0
3	翟维	昆明理工大学理学院	5	21	3.0	4.0
4	伍昂	昆明理工大学理学院	3	17	2.0	3.0
5	蔡彦	昆明理工大学理学院	3	17	2.0	3.0