基于IR1150双频功率因数校正器的研究

• 作者: 付炎炎 王明渝
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: IR1150 双频Boost 功率因数校正 损耗
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 电能质量
• 页码范围: 35-37,46
• 分类号: TK714.1
• 字数: 1359字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2012.02.010

摘要

提出了一种基于IR1150双频Boost型PFC拓扑结构.其高、低频均由两电平Boost单元和IR1150构成,不仪可校正功率因数,还可使流过高频单元的电流大大减少,从而降低整个电路的开关损耗.详细分析了该电路的工作原理,并给出了仿真结果.仿真结果证明了理论分析的正确性和有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王明渝	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	103	1151	19.0	28.0
2	付炎炎	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	3	23	2.0	3.0