电子能量损失谱研究钛硅分子筛中钛的存在状态

• 作者: 向彦娟 张进 徐广通 朱斌 林民 郑爱国
• 来源期刊: 石油学报（石油加工）
• 学科: 工学
• 关键词: 钛硅分子筛(TS-1) 电子能量损失谱(EELS) 透射电子显微技术(TEM) X射线能谱技术(EDX)
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 991-994
• 页数: 4页
• 分类号: TE624.4
• 字数: 2311字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8719.2012.06.016

摘要

利用透射电子显微技术(TEM)、X射线能谱技术(EDX)以及电子能量损失谱技术(EELS)对Ti原子是否进人到TS-1钛硅分子筛骨架进行了研究.结果表明,TS-1钛硅分子筛中存在的微量TiO2粒子的EELS信号中O-K边与Ti-L2边的能量差为70 eV左右；而钛硅分子筛(TS)粒子的EELS信号中O-K边与Ti-L2边的能量差为79 eV左右.对比TiO2、TS粒子的EELS,发现TS粒子的Ti-L2、Ti-L3边与TiO2粒子的Ti-L2、Ti-L3边的能量差为1 eV,这种能量差异可以作为Ti原子进入TS-1钛硅分子筛骨架的一种证明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐广通		48	308	11.0	15.0
2	林民		15	87	6.0	8.0
3	朱斌		16	81	6.0	8.0
4	郑爱国		14	41	3.0	5.0
5	张进		10	26	3.0	4.0
6	向彦娟		5	6	2.0	2.0