交流500kV复合绝缘子内部缺陷对轴向电场分布的影响

• 作者: 刘珊 刘芹 张福增 李立浧 谢从珍 郝艳捧
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 复合绝缘子 内部缺陷 局部放电 电场分布 有限元分析 子模型
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 922-928
• 页数: 7页
• 分类号: TM216
• 字数: 3623字
• 语种: 中文

摘要

复合绝缘子的芯棒和护套间的胶接界面贯通于绝缘子两端,是内绝缘的组成部分。一旦芯棒和护套粘接不紧密,在界面形成的间隙将畸变周围电场分布,高场强的长期作用将对芯棒机械性能造成影响。为了研究界面缺陷对电场分布的影响,以南方电网某交流500kV线路复合绝缘子断裂事故为研究对象,应用有限元分析软件ANSYS建立了该断裂复合绝缘子的整体模型和子模型,计算了芯棒表面存在缺陷时的电场分布。结果表明：气隙处电场强度增大,但不足以引发局部放电。水分渗入后,缺陷尺寸足够大时电场强度将会超过空气的击穿场强,导致局部放电,进一步加速界面粘接性的劣化;护套破损后内部芯棒暴露,芯棒蚀损使得机械性能降低,最终将引发断裂掉串。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝艳捧	华南理工大学电力学院	86	1226	19.0	30.0
2	李立浧	华南理工大学电力学院	72	1196	21.0	32.0
3	张福增		39	560	15.0	22.0
4	刘芹	华南理工大学电力学院	5	102	4.0	5.0
5	谢从珍	华南理工大学电力学院	23	376	12.0	19.0
6	刘珊	华南理工大学电力学院	10	193	8.0	10.0