基于TTCN-3的TD-LTE非接入层测试研究

• 作者: 李小文 李校林 牛丽丽
• 来源期刊: 广东通信技术
• 关键词: TTCN-3 TD-LTE 非接入层 终端 一致性测试
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 新技术新业务
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TP312
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-6403.2012.04.012

摘要

主要在介绍TD-LTE非接入层协议和TTCN-3标准的基础上，对TD-LTE终端测试中E—UTRAN／SAE的系统架构和非接入层的测试模型进行分析，并使用TTCN-3对非接入层进行一致性测试，并以EMM实体为例进行了验证。证明了该方法能够有效实现EMM实体协议的一致性测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牛丽丽		1	3	1.0	1.0
2	李校林		1	3	1.0	1.0