R＆S携手东大测试竞赛助力IEEE微波年会

• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 微波电路设计 竞赛 IEEE 测试 罗德与施瓦茨公司 年会 理论联系实际 东南大学
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 页码范围: 96-96
• 页数: 1页
• 分类号: TN925.93
• 语种: 中文

摘要

东南大学第三届射频微波电路设计及测量竞赛于2012年9月落下帷幕。为了增强学生设计和测量射频微波电路的能力,自2010年开始,罗德与施瓦茨公司与东南大学每年都会共同举办一届这样的竞赛。此竞赛的主旨在于通过模拟实验和测试来达到理论联系实际的目的。本次竞赛于2012年3月20日拉开序幕,于2012年9月18日落幕。评委会从51组超过140多人的参赛学生中选出三个不同领域的获胜者,分获一、二、三等及特殊奖。