X射线对复合绝缘子内部缺陷的透照检测和诊断

• 作者: 于虹 张辉 彭庆军 徐卓 李卫国 王达达 赵现平 闫文斌
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 复合绝缘子 X射线 芯棒 伞裙 护套 无损检测 数字平板成像技术
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 58-66
• 分类号: TM216
• 字数: 5472字
• 语种: 中文

摘要

复合绝缘子因其质轻耐污强度高和易维护,在中国已挂网运行近千万只,但是复合绝缘子因其特殊性,传统绝缘子的检测方法对其并不完全适用,复合绝缘子的发展亟待新型检测技术的出现.笔者运用X射线透视检测技术对复合绝缘子进行透照能力验证并得到推荐参数后,利用该参数对伞套区、芯棒区、伞套与芯棒胶结面、金具区段等4大区域的模拟缺陷进行检测,对成批的复合绝缘子进行现场检测,所获X射线成像图上复合绝缘子内部结构直观可见、缺陷类型及其位置清晰可辨、护套厚度芯棒直径等可测.研究结果可作为X射线透视检测技术对复合绝缘子进行缺陷检测以及型式检测的实践参考依据.