低温胁迫对扁桃休眠枝条电解质渗出率的影响

• 作者: 廖康 毛金梅 王建友 蒋江照 邱杰
• 来源期刊: 新疆农业科学
• 学科: 农学
• 关键词: 扁桃 低温胁迫 电解质渗出率
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 页码范围: 1985-1989
• 页数: 5页
• 分类号: S662.9
• 字数: 2949字
• 语种: 中文
• DOI: 10.6048/j.issn.1001-4330.2012.11.005

摘要

[目的]研究低温胁迫对扁桃休眠枝条冻害的影响,比较不同品种的抗寒性.[方法]以新疆4个主栽扁桃品种为材料,通过人工低温处理休眠枝条,测定枝条组织电解质渗出率.[结果]各温度处理区间不同时间处理后电解质渗出率的平均值总体趋势是由低至高；在持续时间上进行比较,12 h达到了极显著水平；4个品种之间比较,双果和小软壳均达到了极显著水平.[结论]在相同低温不同持续时间的处理下,随着低温时间持续,电解质渗出率整体表现为随着时间的延长逐渐升高然后降低的趋势；在不同低温及不同持续时间处理下,被测试的4个品种随着温度的降低,扁桃休眠枝条对低温所能忍受的持续时间则会缩短；4个品种抗寒力强弱的顺序为:双果、纸皮、寒丰、小软壳.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建友		41	199	8.0	10.0
2	毛金梅		32	147	7.0	10.0
3	邱杰		9	51	5.0	6.0