IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究

• 作者: 刘林生 张东 陈建新
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: IEEE 1149.4标准 混合信号 边界扫描 电路测试
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 1-6
• 页数: 6页
• 分类号: TN713
• 字数: 2312字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2012.05.001

摘要

本文采用复杂可编程逻辑器件（CPLD）和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块（ABM）开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张东		25	124	5.0	10.0
2	陈建新	北京工业大学电子信息与控制工程学院	65	441	11.0	17.0