超声TOFD图谱多普勒频移估计及增强算法研究

• 作者: 姚强 朱宇宏 王燕 赵亮强 陈华斌
• 来源期刊: 电焊机
• 关键词: 超声TOFD 多普勒频移 合成孔径聚焦 图像增强
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 重点关注
• 页码范围: 12-14,33
• 页数: 4页
• 分类号: TG409
• 语种: 中文

摘要

为了提高超声TOFD平行扫查(B扫)图谱的横向分辨率、区分横向接近的不同缺陷,采用合成孔径聚焦技术(SAFT,Synthetic Aperture Focusing Technique)对B扫图谱进行波束锐化和图像增强,推导了缺陷尖端衍射回波的参数模型和多普勒频移,提出了B扫图谱多普勒频率随缺陷深度呈非线性关系.在经典SAF重建的基础上,对合成孔径两侧的缺陷信号进行增益补偿,修正波束衰减引起的B扫图谱灰度梯度下降.研究结果表明:该方法能有效提高孔径合成图谱中缺陷信号的横向分辨率和对比度,精确表征缺陷在被检测体中的横向位置及缺陷高度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚强		29	79	4.0	8.0
2	王燕		41	121	6.0	10.0
3	朱宇宏		42	95	5.0	9.0
4	陈华斌	上海交通大学材料科学与工程学院焊接所	27	192	8.0	13.0
5	赵亮强	上海交通大学材料科学与工程学院焊接所	1	1	1.0	1.0