TFT漏电流对Flicker影响及测试方法研究

• 作者: 刘家荣 姚之晓 林鸿涛 王明超 王章涛 邵喜斌
• 来源期刊: 现代显示
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示器 闪烁 薄膜晶体管漏电流
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 32-36
• 页数: 5页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 962字
• 语种: 中文

摘要

薄膜晶体管（TFT）作为像素单元充放电的开关，其漏电流（U大小是影响液晶屏性能的重要参数之一。文章利用薄膜晶体管的非晶硅层为光敏材料的特点，通过液晶屏翻转实验、背光亮度变化实验、min flicker-Vcom变化实验测量了flicker的大小，验证了光照强度增强导致k增加后，出现了flicker增大的现象，确定了k过高导致flicker的测试方法，通过实验进一步确定了k大小对flicker的影响。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王章涛		4	25	3.0	4.0
2	邵喜斌		5	40	4.0	5.0
3	姚之晓		3	24	3.0	3.0
4	王明超		3	24	3.0	3.0
5	林鸿涛		4	39	4.0	4.0
6	刘家荣		3	24	3.0	3.0