晶体硅组件长期运行后性能及衰退原因分析

• 作者: 梁齐兵 沈辉 舒碧芬 葛文君 郑海兴 陈美园
• 来源期刊: 太阳能学报
• 学科: 工学
• 关键词: 晶体硅光伏组件 电性能 衰退 寿命
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 页码范围: 614-617
• 分类号: TK514
• 字数: 3341字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-0096.2012.04.014

摘要

介绍了两组已使用20a以上的晶体硅光伏组件的电性能测试结果,分析并评价了组件的电性能状况,统计、归纳了组件的一些外观缺陷,并分析了导致组件失效和电性能衰减的原因.测试结果表明:户外使用20a的多晶硅光伏组件平均功率仅下降6.1％,单晶硅光伏组件的平均功率下降13.0％,均能表现出良好的电性能,为晶体硅电池的寿命估计提供了有力数据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	舒碧芬	中山大学太阳能系统研究所	25	288	9.0	16.0
2	沈辉	中山大学太阳能系统研究所	121	1808	24.0	37.0
3	陈美园	中山大学太阳能系统研究所	6	57	3.0	6.0
4	梁齐兵	中山大学太阳能系统研究所	5	30	3.0	5.0
5	郑海兴	中山大学太阳能系统研究所	2	18	2.0	2.0
9	葛文君	中山大学太阳能系统研究所	1	14	1.0	1.0