基于IEEE Std 1500标准的SOC可测性设计研究

• 作者: 周浔 周银 王月芳 陈圣俭
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: SOC IEEE Std 1500 IP核 边界扫描 测试
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 1190-1193
• 分类号: TP331.1
• 语种: 中文

摘要

集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展,使得基于IP核复用的SOC设计技术得到越来越广泛的应用,但由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难；IEEE为解决SOC的测试问题提出了嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500,致力于建立标准化的IP核供应商和用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用；文章详细介绍了IEEE Std 1500标准的测试架构,使用方法和核测试描述语言CTL,同时给出标准中提出的SOC可测性设计方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周银	装甲兵工程学院控制工程系	8	28	4.0	4.0
2	陈圣俭	装甲兵工程学院控制工程系	49	228	9.0	12.0
3	周浔	装甲兵工程学院控制工程系	11	29	3.0	5.0
4	王月芳	装甲兵工程学院信息工程系	7	40	4.0	6.0