基于FPGA的恶劣环境下瞬态高温存储测试系统

• 作者: 靳鸿 顾强
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 蓝宝石光纤 黑体腔 FPGA
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 微处理器与可编程器件应用
• 页码范围: 24-28,51
• 页数: 6页
• 分类号: TP206
• 字数: 1842字
• 语种: 中文

摘要

在航空、航天发动机、核工业和爆炸试验测试中，有许多研究对象需要测量的是高压、高冲击条件lF的瞬态（〈lms）高温（2000℃～3000℃），其工作特点是温度高，变化快，且常为不可重复性过程，而且伴随着很强的电磁干扰，测量条件非常恶劣，技术难度很高。Efl于蓝宝石（A1203）单晶物理化学性能稳定，机械强度好、硬度高、绝缘、耐腐蚀、折射率大，在0．3～4．0μm波段范闸内透光性很好，拉伸强度2200MPa，熔点高达2045℃。为了解决传统测温方法的不足，本文采用了蓝宝石单晶光纤黑体腔温度传感器来采集前端温度，与FPGA精确控制下的低功耗、微体积的测试电路一起灌封在高强度耐高温壳体当中，它们所组成的存储测试系统成功地解决了恶劣环境下瞬态高温测试存在的大量问题。