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摘要:
利用显微Raman光谱技术,对比研究了CdZnTe晶体无位错区和位锘密集区的Raman光谱.研究发现,CdZnTe晶体无位错区的Raman光谱出现了与Te有关的A1模(119 cm-1)、类CdTe的TO1模(138 cm-1)和类ZnTe 的TO2模(179 cm-1);CdZnTe晶体位错密集区的Raman光谱中仅出现了与Te有关的A1模和类CdTe的TO1模,CdZnTe晶体类ZnTe的TO2模消失.对CdZnTe试样位错密集区进行变温光致发光谱测试,结果表明,束缚在中性施主上的激子的离解为电子空穴对,电子空穴的非辐射复合过程吸收了类ZnTe的TO2模声子能量,造成Raman 光谱中类ZnTe的TO2模缺失.
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文献信息
篇名 CdZnTe晶体位错处的Raman光谱及PL谱研究
来源期刊 人工晶体学报 学科 工学
关键词 CdZnTe 位错 Raman光谱
年,卷(期) 2012,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 922-925
页数 4页 分类号 TN304.2+5
字数 2397字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周海 北京石油化工学院材料科学与工程系 79 487 12.0 17.0
2 曾冬梅 北京石油化工学院材料科学与工程系 21 50 4.0 6.0
3 殷业财 北京石油化工学院工程教育中心 9 18 2.0 4.0
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CdZnTe
位错
Raman光谱
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人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
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