光器件的回损测量

• 作者: 孙景群
• 来源期刊: 电信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 回损 光器件 Agilent公司 测量 光纤无源器件 光纤通信系统 测试方案 测试仪表
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 产品与解决方案
• 页码范围: 95-97
• 页数: 3页
• 分类号: TN916.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1247.2012.07.036

摘要

1 概述 自光纤通信系统出现就有了光纤无源器件的回损测试方案，早期的典型测试仪表包括JDSU公司的RXMeter、Agilent公司的816xx系列等。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙景群		3	2	1.0	1.0