斜采样技术的混叠分析及分辨率计算

• 作者: 夏德深 徐丽燕 王静
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 斜模式采样 超模式斜采样 最佳倒易晶胞 有效分辨率
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 1067-1072
• 分类号: TP751.1
• 字数: 5332字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2012.05.033

摘要

斜采样技术通过将线阵探测器倾斜一定的角度并调节积分时间的方法,利用较低成本实现了探测器的亚像元成像.本文对单线阵斜采样及超模式斜采样方式的混叠及分辨率进行了研究.通过对采样方式在频域对偶网格的分析,建立了斜采样成像系统与混叠的关系,在有效分辨率的意义下,确定了混叠与噪声最小的最佳倒易晶胞,将错位的频谱恢复到了正确的位置,提高了分辨率.实验结果表明,通过最佳倒易晶胞去除混叠的斜采样技术有效地提高了线阵采样式光学遥感器图像分辨率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏德深	南京理工大学计算机科学与技术学院	220	3601	29.0	48.0
2	王静	南京理工大学计算机科学与技术学院	31	248	7.0	15.0
3	徐丽燕	南京理工大学计算机科学与技术学院	12	125	7.0	11.0