| 篇名 | Recovery of single event upset in advanced complementary metal-oxide semiconductor static random access memory cells | ||
| 来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
| 关键词 | single event upset multi-node charge collection static random access memory angular dependence | ||
| 年,卷(期) | 2012,(2) | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 624-628 | |
| 页数 | 5页 | 分类号 | |
| 字数 | 语种 | 英文 | |
| DOI | 10.1088/1674-1056/21/2/029401 | ||