基于软件缺陷知识的测试框架研究

• 作者: 余正伟 周庆
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试框架 软件缺陷 灰盒测试
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 134-138,142
• 分类号: TP311.52
• 字数: 6548字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2012.06.034

摘要

通过对软件测试框架的研究,给出了测试框架表述的三层模型,并从研究解决的软件测试问题域出发,提出基于缺陷知识的测试框架,具体阐述了该测试框架的三层模型,并且实现了基于缺陷知识的静态分析和灰盒动态测试技术.该测试框架为后续测试技术的研究提供了整体的理论支持.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周庆	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	5	84	4.0	5.0
2	余正伟	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	5	55	3.0	5.0